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超高速高低溫氣流沖擊試驗機可針對眾多元器件中的某單個IC或其它元件,將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件,與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗箱相比,溫變變化沖擊速率更快。
高低溫熱流儀是將被控制溫度的壓縮機空氣從氣嘴噴射出來,僅僅只需要數(shù)秒鐘的時間就可以達到個溫度試驗必須的環(huán)境,與普通的高低溫沖擊試驗箱相比較,大大的縮短了試驗時間,提高生產效率。
熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、電子行業(yè)等進行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。
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